糖心

测试目的

测定绝缘材料在特定频率和温度下的介电常数（εr）和介质损耗角正切值（tanδ），评估材料在高频电场中的储能能力和能量损耗特性，确保其符合国家标准（GB/T系列）及国际标准（ASTMD150）的要求。

样品制备

1.尺寸要求：

固体材料：厚度1±0.02mm，直径≥60mm（避免边缘效应）。

薄膜材料：迭层至总厚度≥0.5mm（GB/T5594.4要求）。

2.预处理：

清洁：用无水乙醇擦拭表面，去除污染物。

干燥：置于50°C真空烘箱中处理24小时（ASTMD150要求湿度<30%）。

恒温恒湿：在23±2°C、50±5%RH环境下平衡48小时。

测试步骤（以硅橡胶为例）

1.电极安装

采用接触式电极（镀金铜电极），施加5N压力确保与样品表面紧密接触。

对于软质材料（如硅橡胶），使用液态电极（导电银浆）避免机械应力影响。

2.电容与损耗测量

设置LCR测试仪参数：

频率：1kHz、10kHz、100kHz、1MHz（覆盖GB/T1409全频段）。

测试电压：1Vrms（避免材料击穿）。

记录电容值（Cx）和损耗因数（D）。

3.介电常数计算

εr=frac

其中，(C0)为相同电极间距下的空气电容值。

4.介质损耗角正切值（tanδ）

直接读取LCR测试仪测得的损耗因数（D），即tanδ=D。

5.温度依赖性测试（GB/T1693要求）

将样品置于恒温箱中，在20℃、25℃、80℃下分别测量εr和tanδ。