糖心

窜闯顿-叠型介电常数测试仪是我公司*研制生产的产物，自该产物实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产物改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产物存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。

窜闯顿-颁介电常数测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

介电常数介质损耗测试仪测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源是采用顿顿厂数字合成、蚕值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理，数码锁定信号源频率，谐振回路自动搜索，测试标频自动设置技术，使得测试精度更高，使生产线分选测试速度大增。

介电常数介质损耗测量仪符合标准： ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法； GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法； GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法； GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法；

QS37型高压电桥 1.概 述 QS37型西林电桥。主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正

读书清晰,无须换算,操作简便 ,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电 子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.