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     介电常数试验仪窜闯顿-叠【数字式】介绍

    ZJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.

    技术参数

     ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪

    仪器介绍

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    1Q值测量范围：5～999

    Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡

    误差：25kHz～10MHz≤5%±满度值的2%

    10MHz～50MHz≤7%±满度值的2%

    2电感测量范围：0.1μH～1H分七个量程

    3电容测量范围：1PF～460PF

    主电容调节范围：40PF～500PF

    准确度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微调电容调节范围：-3PF～0PF～+3PF

    准确度：±0.2PF

    4频率覆盖范围：25kHz～50MHz分七段

    指示误差：2×10-4±2个字

    5电源：220V±22V50Hz±2.5Hz25W

    6环境温度：(0～+40)℃

    7相对湿度：RH<80%

    8外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9重量：约7kg

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪

    仪器介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

    1双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

    2双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

    3双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。

    4自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。

    5全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q值、信号源频率、谐振指针。

    6DDS数字直接合成的信号源-确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

    7计算机自动修正技术和测试回路*化—使测试回路残余电感减至zui低，**Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

     中航产物保修承诺：

    1、设备保修两年，终身服务，三年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后，zui迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。

    2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。

    3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。

    4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。